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  苹果iPhone最新旗舰机iPhone 4从泄密之日便备受关注,上市之后更是以摧枯拉朽之势热卖全球。所谓树大招风,iPhone 4大受全球果粉欢迎的同时同样被曝光了各种质量问题,其中沸沸扬扬的信号门(在握住左下角凹槽时,iPhone 4信号强度大幅下降)便是典型代表。近日国外媒体再次拿iPhone 4的死亡之握开涮,发现除了其信号会下降之外,死亡之握还会导致iPhone 4电磁发射大幅增强。

  

iPhone 4再爆死亡之握 不只是信号衰减

 

  iPhone 4“死亡之握”之前的辐射强度

  

iPhone 4再爆死亡之握 不只是信号衰减

 

  iPhone 4“死亡之握”之后的辐射强度

  通过上图我们可以清晰地看到,iPhone 4在“死亡之握”之后的辐射强度是握之前的数倍。除了苹果iPhone 4之外,参与测试的机型还有黑莓9700和谷歌Nexus One,它们在被握住天线之后的表现与iPhone 4相类似。

  

iPhone 4再爆死亡之握 不只是信号衰减

 

  黑莓9700被握住天线之前的辐射强度

  

iPhone 4再爆死亡之握 不只是信号衰减

 

  黑莓9700被握住天线之后的辐射强度

  

iPhone 4再爆死亡之握 不只是信号衰减

 

  Nexus One被握住天线之前的辐射强度

  

iPhone 4再爆死亡之握 不只是信号衰减

 

  Nexus One被握住天线之后的辐射强度

  这次测试没有攻击苹果iPhone 4信号问题的嫌疑,因为黑莓9700和谷歌Nexus One的表现并没有比iPhone 4强,但是能告诉我们一个道理:手机在天线部分被挡住的时,其信号强度会大幅衰减,信号衰减的同时手机带来的电磁辐射会大幅增强,所以我们应当在信号相对较好的地方接打电话。

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