时间:2014-07-03 13:23:24 来源: 复制分享
苹果iPhone最新旗舰机iPhone 4从泄密之日便备受关注,上市之后更是以摧枯拉朽之势热卖全球。所谓树大招风,iPhone 4大受全球果粉欢迎的同时同样被曝光了各种质量问题,其中沸沸扬扬的信号门(在握住左下角凹槽时,iPhone 4信号强度大幅下降)便是典型代表。近日国外媒体再次拿iPhone 4的死亡之握开涮,发现除了其信号会下降之外,死亡之握还会导致iPhone 4电磁发射大幅增强。
iPhone 4“死亡之握”之前的辐射强度
iPhone 4“死亡之握”之后的辐射强度
通过上图我们可以清晰地看到,iPhone 4在“死亡之握”之后的辐射强度是握之前的数倍。除了苹果iPhone 4之外,参与测试的机型还有黑莓9700和谷歌Nexus One,它们在被握住天线之后的表现与iPhone 4相类似。
黑莓9700被握住天线之前的辐射强度
黑莓9700被握住天线之后的辐射强度
Nexus One被握住天线之前的辐射强度
Nexus One被握住天线之后的辐射强度
这次测试没有攻击苹果iPhone 4信号问题的嫌疑,因为黑莓9700和谷歌Nexus One的表现并没有比iPhone 4强,但是能告诉我们一个道理:手机在天线部分被挡住的时,其信号强度会大幅衰减,信号衰减的同时手机带来的电磁辐射会大幅增强,所以我们应当在信号相对较好的地方接打电话。